Electron emission yield for low energy electrons: Monte Carlo simulation and experimental comparison for Al, Ag, and Si

发表于 3 天前

期刊：Journal of Applied Physics

文献作者：J. Pierron; C. Inguimbert; M. Belhaj; T. Gineste; J Puech; M. Raine

出版日期：2017-6-7

DOI号：10.1063/1.4984761

下载链接：https://pubs.aip.org/aip/jap/art ... 215107_1_online.pdf

文献链接：https://doi.org/10.1063/1.4984761

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