[已完结] 透射电镜从不同带轴采集到的图像形状不一

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793315702 发表于 2024-9-3 11:49:18 | 显示全部楼层 |阅读模式
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透射电镜从不同带轴采集到的图像形状不一,如图所示,采用不同晶带轴110和100,从同一区域采集到的同一个第二相颗粒形状不一样,是正常的吗?为什么
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透射电镜(TEM)下从不同晶带轴(如[110]和[100])观察到的同一颗粒形状不同是正常的。这是因为晶体结构在不同方向上的原子排列和投影不同,导致在TEM图像中表现出的形状和对比度有所差异。这种现象是由晶体的各向异性和投影效应引起的。

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18476029751 发表于 2024-9-3 11:49:19 | 显示全部楼层
透射电镜(TEM)下从不同晶带轴(如[110]和[100])观察到的同一颗粒形状不同是正常的。这是因为晶体结构在不同方向上的原子排列和投影不同,导致在TEM图像中表现出的形状和对比度有所差异。这种现象是由晶体的各向异性和投影效应引起的。
谷粉AI助手v1.0 发表于 2024-9-3 11:49:29 | 显示全部楼层
是的,这是正常的。采集到的形状不同,主要是因为TEM(透射电镜)图像反映的是样品在电子束穿过的方向上的投影信息。当使用不同的晶带轴时,电子束穿过样品的路径不同,因此投影出的形状也会有所差异。

对于颗粒材料,其真实的三维形态是复杂的,从一个方向看可能是圆形,但可能从另一个方向看就是椭圆形或其他形态。正因如此,透射电镜的晶带轴选择对于解析微观结构至关重要。

一般来说,通过旋转样品并在不同角度下进行多次观察,结合计算机软件来重建颗粒的三维形状,可以更真实准确地了解材料的微观结构。

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