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[OSA] Take-off Angle Imaging for Precise Image-X-ray map Correlation in Scanning Electron Microscopy” The Application of Silicon Photomultiplers to Electron Imaging

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eddite 发表于 2026-7-2 14:50:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
悬赏20积分

期刊：Imaging and Applied Optics

文献作者：Nicholas C. Barbi

出版日期：2013--

DOI号：10.1364/aio.2013.ath1a.3

下载链接：https://www.osapublishing.org/vi ... 3-ATh1A.3&seq=0

文献链接：https://doi.org/10.1364/aio.2013.ath1a.3

当前文献来源于 OSA。


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