Reliability Qualification of 1700V Lateral GaN HEMTs for Data Center, Industrial and Automotive Applications

发表于 2026-7-15 22:52:38

期刊：2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

文献作者：Karthick Murukesan; Robert Yang; Kamal Varadarajan; Alexei Ankoudinov; Bhawani Shankar; Alexey Kudymov; Sorin Georgescu

出版日期：2026-3-22

DOI号：10.1109/irps61424.2026.11499213

下载链接：https://ieeexplore.ieee.org/stampPDF/getPDF.jsp?arnumber=11499213

文献链接：https://doi.org/10.1109/irps61424.2026.11499213

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