[IEEE] Dynamic Reverse Bias Reliability Testing of SiC MOSFETs

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tianbaohua 发表于 2026-7-28 11:12:11 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:2025 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

文献作者:Vamsi Mulpuri; Vishank Talesara; Kailun Zhong; Siddarth Sundaresan; Navitas Semiconductor

出版日期:2025-3-30

DOI号:10.1109/irps48204.2025.10983571

下载链接:https://ieeexplore.ieee.org/stampPDF/getPDF.jsp?arnumber=10983571

文献链接:https://doi.org/10.1109/irps48204.2025.10983571

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