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[IEEE] Deep Embedding-Attention-Refinement for Sparse-View CT Reconstruction

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预言家 发表于 2026-7-31 14:31:50 | 显示全部楼层 |阅读模式

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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

文献作者：Weiwen Wu; Xiaodong Guo; Yang Chen; Shaoyu Wang; Jun Chen

出版日期：2023--

DOI号：10.1109/tim.2022.3221136

下载链接：https://ieeexplore.ieee.org/stampPDF/getPDF.jsp?arnumber=9944644

文献链接：https://doi.org/10.1109/tim.2022.3221136

当前文献来源于 Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)。

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