收藏本站 万方检测 维普检测 中文降重 英文语法检测 Turnitin UK版 Turnitin 国际版
登录 注册

文献互助-谷粉互助｜10秒响应文献互助平台

[IEEE] IEEE 2

 关闭 求助已关闭
andyjackcao 发表于 2026-8-6 19:33:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
悬赏10积分


DOI号:

文献链接:   A Systematic Study of ESD Protection Co-Design With High-Speed and High-Frequency ICs in 28 nm CMOS | IEEE Journals & Magazine | IEEE Xplore

文献作者: [size=0.87]Fei Lu; Rui Ma; Zongyu Dong; Li Wang; Chen Zhang; Chenkun Wang




[url=]All Authors[/url]


备注信息:

已采纳

梦之泪伤a 高级会员
2026-8-6（该求助已完结,附件将在上传时间7天后自动删除）
附件内容

查看完整内容

回复

使用道具 捐赠获取积分 应助有误反馈

全部回复1 显示全部楼层
梦之泪伤a 发表于 2026-8-6 19:34:00 | 显示全部楼层

当前求助已完成，请重新发起求助。

已完结状态的附件将会在24小时内删除。
回复

使用道具 捐赠获取积分 应助有误反馈

andyjackcao Lv.3
高级会员

  • 发布

  • 回复

  • 积分

    462

同分类求助

最新回复

站点公告

今日热心研友

（热心研友QQ群）


返回列表