[其他期刊] First-order reversal curve diagrams for characterizing ferroelectricity of Hf0.5Zr0.5O2 films grown at different rates

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TKJ 发表于 2026-8-10 17:11:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena

文献作者:Youngin Goh; Sanghun Jeon

出版日期:2018-9-1

DOI号:10.1116/1.5046762

下载链接:https://pubs.aip.org/avs/jvb/art ... 052204_1_online.pdf

文献链接:https://doi.org/10.1116/1.5046762

当前文献来源于 American Vacuum Society


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