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[SPIE] Multi-wavelength varifocal common-path configuration for digital holographic microscopy

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期刊：Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XIV

文献作者：Chung-Hsuan Huang; Han-Yen Tu; Chau-Jern Cheng

出版日期：2025-8-8

DOI号：10.1117/12.3062522

文献链接：https://doi.org/10.1117/12.3062522

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