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[AIP] Secondary electron emission in the scanning electron microscope

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崔鹏飞 发表于 前天 10:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊：Journal of Applied Physics

文献作者：H Seiler

出版日期：1983-11-1

DOI号：10.1063/1.332840

下载链接：https://pubs.aip.org/aip/jap/art ... 445/r1_1_online.pdf

文献链接：https://doi.org/10.1063/1.332840

当前文献来源于 AIP Publishing。


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