[SPIE] Research on characteristics measurement of infrared defect tester

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AnwenGong 发表于 前天 20:46 | 显示全部楼层 |阅读模式
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本帖最后由 AnwenGong 于 2026-8-14 21:00 编辑

期刊:AOPC 2017: Optoelectronics and Micro/Nano-Optics

文献作者:Zhou Taogeng; Zhang Junchao; Meng Haifeng; Cai Chuan; He Yingwei; Li Xiaohui; Wang Changshi; Zhang Keija; Zhang Bifeng; Xiong Limin

出版日期:2017-10-24

DOI号:10.1117/12.2285194

文献链接:https://doi.org/10.1117/12.2285194

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