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[SPIE] CGH Interferometer system for two-dimensional curved x-ray mirror production

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Kxy_TK 发表于昨天 23:14 | 显示全部楼层 |阅读模式

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期刊：Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics X

文献作者：Shunichiro Matsuzaka; Toshio Nakano; Toshiki Taniguchi; Hiroki Nakamori; Akira Miyake

出版日期：2023-10-4

DOI号：10.1117/12.2678529

文献链接：https://doi.org/10.1117/12.2678529

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