[RSC] Towards standardization of conductive atomic force microscopy

KevinStephen 发表于 昨天 22:56 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:Nanoscale

文献作者:Francois Piquemal; José Morán-Meza; Petr Klapetek; Jan Martinek; Zhi Li; Bruno Sauvet; Virpi Korpelainen; Steffan Moller Sonderskov; Hüsnü Aslan

出版日期:--

DOI号:10.1039/d6nr01323f

下载链接:http://pubs.rsc.org/NR/article-p ... 3F/0/D6NR01323F.pdf

文献链接:https://doi.org/10.1039/d6nr01323f

当前文献来源于 Royal Society of Chemistry (RSC)


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