[Elsevier/Sciencedirect] SiC MOSFET reliability: Review of degradation mechanisms, failures, and enhancement strategies

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Yizhang001 发表于 2026-8-20 11:08:10 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:e-Prime – Nexus of Electrical, Electronic, and Intelligent Engineering

文献作者:Ahmed Abdelaleem; Mohammad Monfared; Mike Jennings; Saeed Jahdi; Mohammed Amer Karout; Barry Nel; Jon Evans; Craig A. Fisher

出版日期:2026-9-

DOI号:10.1016/j.eprime.2026.201163

下载链接:https://www.sciencedirect.com/sc ... 117511226000138/pdf

文献链接:https://doi.org/10.1016/j.eprime.2026.201163

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学术小白P 发表于 2026-8-20 11:08:11 | 显示全部楼层

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