Study of thermal degradation of organic light emitting device structures by X-ray scattering

发表于 2026-8-20 20:12:44

期刊：Thin Solid Films

文献作者：Young-Joo Lee; Heeju Lee; Youngsuk Byun; Sanghoon Song; Je-Eun Kim; Daeyong Eom; Wonsuk Cha; Seong-Sik Park; Jinwoo Kim; Hyunjung Kim

出版日期：2007-5-

DOI号：10.1016/j.tsf.2006.12.018

下载链接：https://www.sciencedirect.com/sc ... 040609006015525/pdf

文献链接：https://doi.org/10.1016/j.tsf.2006.12.018

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