[Springer] [完整书籍]Reliability Technology for Integrated Circuit Packaging

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august399 发表于 2026-8-25 14:36:02 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:

文献作者:Bin Zhou; Yunfei En; Si Chen

出版日期:2026--

DOI号:10.1007/978-981-95-3885-0

下载链接:https://link.springer.com/conten ... 8-981-95-3885-0.pdf

文献链接:https://doi.org/10.1007/978-981-95-3885-0

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学海舟 发表于 2026-8-25 14:36:03 | 显示全部楼层

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