A Lifetime Prediction Method of IGBT Based on Phased Nonlinear Wiener Process

发表于 2026-9-7 23:00:20

期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

文献作者：Anran Hua; Yanbo Che; Peiyi Li; Mengxiang Zheng

出版日期：2025-9-

DOI号：10.1109/tdmr.2025.3575598

下载链接：https://ieeexplore.ieee.org/stampPDF/getPDF.jsp?arnumber=11020803

文献链接：https://doi.org/10.1109/tdmr.2025.3575598

当前文献来源于 Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)。

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