Modeling of thermal stresses in passivation layers of InSb infrared detector

发表于 2026-9-8 13:38:43

期刊：Eighth Symposium on Novel Photoelectronic Detection Technology and Applications

文献作者：Dongying Wu; Wei Liu; Wen Wang; YanQiu Lyu

出版日期：2022-3-27

DOI号：10.1117/12.2619717

文献链接：https://doi.org/10.1117/12.2619717

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