[AIP] An improved wedge calibration method for lateral force in atomic force microscopy

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nje2025 发表于 2026-9-19 16:39:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:Review of Scientific Instruments

文献作者:M. Varenberg; I. Etsion; G. Halperin

出版日期:2003-7-1

DOI号:10.1063/1.1584082

下载链接:https://pubs.aip.org/aip/rsi/art ... 2/3362_1_online.pdf

文献链接:https://doi.org/10.1063/1.1584082

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weishiqu 发表于 2026-9-19 16:39:06 | 显示全部楼层

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