[AIP] In-vacuum metrology platform for high precision x-ray mirror surface figure characterization

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EllieX 发表于 2026-9-22 11:13:25 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:Review of Scientific Instruments

文献作者:Dezhi Diao; Jun Han; Yihang Yao; Han Dong; Changrui Zhang; Fugui Yang; Xiaowei Zhang; Weifan Sheng; Ming Li

出版日期:2026-1-1

DOI号:10.1063/5.0293903

下载链接:https://pubs.aip.org/aip/rsi/art ... 302_1_5.0293903.pdf

文献链接:https://doi.org/10.1063/5.0293903

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ningxu2024 发表于 2026-9-22 11:13:26 | 显示全部楼层

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EllieX 发表于 2026-9-22 11:29:41 | 显示全部楼层

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