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[IOP] A diode-integrated sic MOSFET with enhanced short-circuit robustness and low leakage current

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xuchunping 发表于 2026-7-29 14:27:53 | 显示全部楼层 |阅读模式

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期刊：Semiconductor Science and Technology

文献作者：Weiyao Ma; Xiaochuan Deng; Xing Zeng; Yinglun Wang; Xuke Yan; Xuan Li; Bo Zhang

出版日期：2026-7-1

DOI号：10.1088/1361-6641/ae7ca9

下载链接：https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ae7ca9

文献链接：https://doi.org/10.1088/1361-6641/ae7ca9

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