[Elsevier/Sciencedirect] On the reliability assessment of trench fieldstop IGBT under atmospheric neutron spectrum

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1362167636 发表于 2026-9-3 20:21:51 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:Microelectronics Reliability

文献作者:A.D. Touboul; L. Foro; F. Wrobel; F. Saigné

出版日期:2012-1-

DOI号:10.1016/j.microrel.2011.08.023

下载链接:https://www.sciencedirect.com/sc ... 026271411004185/pdf

文献链接:https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.08.023

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LonxTX 发表于 2026-9-3 20:21:52 | 显示全部楼层

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