当前位置: »论坛 › 科研专区 › 文献互助› Optimization of FINFET Single Diffusion Break Struct ...

[IEEE] Optimization of FINFET Single Diffusion Break Structure Profile

vein 发表于昨天 23:25 | 显示全部楼层 |阅读模式

此帖将于 2026-08-19 23:25 自动关闭

悬赏10积分

期刊：2024 35th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC)

文献作者：ChunPui Kwan; HongLiang Shen; Sen Ashokmani; LeZhong Gao; Cassidy Dineen; Vishvajeet Vijay Mane; Thilina Dayanga; Cameron Sloan

出版日期：2024-5-13

DOI号：10.1109/asmc61125.2024.10545474

下载链接：https://ieeexplore.ieee.org/stampPDF/getPDF.jsp?arnumber=10545474

文献链接：https://doi.org/10.1109/asmc61125.2024.10545474

当前文献来源于 IEEE。

备注信息：

使用道具捐赠获取积分应助有误反馈

全部回复0 显示全部楼层

发表回复

vein Lv.2

注册会员

发布
回复
积分
190

[IEEE] Optimization of FINFET Single Diffusion Break Structure Profile

发表回复

同分类求助

最新回复

站点公告

今日热心研友

（热心研友QQ群）

[IEEE] Optimization of FINFET Single Diffusion Break Structure Profile 一键复制

发表回复

同分类求助

最新回复

站点公告

今日热心研友

（热心研友QQ群）

[IEEE] Optimization of FINFET Single Diffusion Break Structure Profile