[IEEE] Low Frequency Noise in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors Under Self-Heating Stress

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ggdodo 发表于 2026-9-9 10:12:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices

文献作者:Bo Wang; Meng Zhang; Pengfei Liu; Lanrong Zou; Man Wong; Hoi-Sing Kwok

出版日期:2026-5-

DOI号:10.1109/ted.2026.3670793

下载链接:https://ieeexplore.ieee.org/stampPDF/getPDF.jsp?arnumber=11428263

文献链接:https://doi.org/10.1109/ted.2026.3670793

当前文献来源于 Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)。


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